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計算機斷層掃描系統檢測主要用于檢測高密度和大尺寸物體，應用高能量X射線探，需有更高的系統分辨力等等。目前計算機斷層掃描系統技術的應用十分廣泛；在汽車等制造領域，可以用于零部件的缺陷檢測、質量控制和實效分析；在電子行業，可以用于芯片封裝多余物檢測、封裝工藝改進和逆向設計;在航空航天領域可用于產品質量控制、裝配工藝分析；總之，凡是需要觀測樣品內部結構的場合都能用到計算機斷層掃描系統，是一種十分理想的無損檢測手段。計算機斷層掃描系統常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。II...

計算機斷層掃描系統能在不破壞工件結構的情況下實現模具及模具產品的表面和內部結構的幾何尺寸以及曲面測量，計算出測量目標的長寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數，實現零件與CAD模型對比、幾何尺寸與公差（GD＆T）分析、零件與零件對比。同時可實現產品內部多種缺陷(如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、脫粘、裝配缺陷等)的無損檢測和無損質量評價，檢測對象也幾乎涵蓋了各種材質和各種結構類型的模具及模具產品。對已知工件，可以通過計算機斷層掃描系統檢測掃描，直接得出該工件的三維立體圖，指導模具設計...

氮氣氣體發生器可為氣相色譜提供穩定的氫氣氣源，操作簡單，只需啟動電源開關，即可產氣，輸出壓力穩定，流量由LED數碼顯示，更直觀醒目。發生器電解槽的類型，即：堿性電解槽、基于離子交換技術的聚合物薄膜電解槽和固體氧化物電解槽。氮氣氣體發生器主要由電解系統、壓力控制系統、凈化系統和顯示系統組成。通過電解水產生氫氣，產生的氧氣則放空進入大氣。具有電解面積大、池溫低、性能好、產氣量大、純度高的優點。氮氣氣體發生器的使用方法：開機時，先用原料氫置換系統，從閥3放空，待系統內的高純氮置換干...

聲掃顯微鏡專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也廣泛用于集成電路硅片的檢測工作。聲掃顯微鏡將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對...

實驗室離心機是利用離心力，不同物質在離心場中沉淀速度的差異，對混合溶液進行快速分離的專門設備，是一種將裝有樣品溶液的離心管、瓶或袋的轉頭置于離心軸上，利用轉頭繞軸高速旋轉所產生的強大離心力，使樣品中不同性質顆粒相互分離的特殊裝置，可以實現樣品的分析、分離。下面我們來看看實驗室離心機維護保養方式：1、實驗室離心機必須嚴格按照使用說明書操作，每次使用前后要保證儀器內外的干燥及衛生；2、實驗室離心機使用后離心腔內及時用中性洗滌劑清潔并用軟布擦干，不允許用非中性清潔劑擦洗轉子，防止化...

微焦點X射線實時成像系統可以用于所有X、γ射線裝置的防護水平檢測，尤其適用于工業脈沖X光機及醫學攝影用X光機機房的泄露水平檢測，同時適用于脈沖反應堆的感興趣區域劑量率檢測。是放射衛生評價、環境影響評價、科學試驗監測、國土安全檢測、核應急場合的理想檢測儀。微焦點X射線實時成像系統主要是檢測半導體接線處的焊接問題，焊接容易出現虛焊、漏焊等缺陷，一旦形成這些缺陷，半導體就容易出現短路等問題，為了半導體元件的正常使用，在焊接完成后需要進行缺陷檢測。是目前市場上用于樣品內部檢測的設備，...

計算機斷層掃描系統可按國家標準測量CT伏安特性及曲線、5%、10%誤差曲線、直阻、變比極性；可測裝在變壓器中的套管CT;可直接測量電壓互感器的變比；可定性測量電壓互感器的比差和極性；可現場測量電流和電壓互感器的實際二次負荷等等。計算機斷層掃描系統的系統性能指標：掃描模式：常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而導致環狀偽影（所以減弱或消除環狀偽影是體現CT系統制造商技術水平的主要內容之一）；II代掃描效率大約是III...

超聲波掃描顯微鏡的兩個偏振濾光片互為90°，以獲得所謂的“暗位”，此時視野是全黑的，如果樣品在光學上表現為各向同性(單折射體)，則無論怎樣旋轉載物臺，視場仍是黑暗，這是因為起偏鏡所形成的線偏振光的振動方向不發生變化，根據馬呂斯定律，透射光的強度為0。如果樣品具有雙折射特性，則視野會變亮，這是由于從起偏鏡射出的線偏振光進入雙折射體后，產生振動方向不同的兩種直線偏振光(o光和e光)，當這兩種光通過檢偏鏡時，由于e光并不服從折射定律，其與檢偏鏡偏振方向不是90°，所以可透過檢偏鏡，...